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光矢量分析儀OCI-V

產品型號：

所屬分類：OFDR矢量分析儀

更新時間：2024-11-14

簡要描述：光矢量分析儀OCI-V是一款快速檢測光學器件損耗、色散和偏振等相關參數(shù)的光矢量分析系統(tǒng)。

詳細說明：

光矢量分析儀OCI-V其原理是采用線性掃頻光源對待測器件進行掃描，并結合相干檢測技術獲取待測器件的瓊斯矩陣，進而獲得器件插損、色散、偏振相關損耗、偏振模色散等光學參數(shù)。該系統(tǒng)采用光路設計以及*算法，實現(xiàn)智能校準，操作簡單，極大節(jié)省測試時間。


　　特點：

　　  • 自校準

    • 測量長度：200m

　　  • 波段：C+L、O波段（可選）

　　  • 1秒內測量多種光學參數(shù)


　　應用：

   •平面波導器件、硅光器件、光纖器件。

　　• 波長可調器件、放大器、濾波器。

　　• 測量參數(shù)：偏振相關損耗PDL，偏振模色散PMD，插損IL，群延時GD，色散CD，瓊斯矩陣參數(shù)，光學相位。


     光矢量分析儀OCI-V參數(shù)：

主要參數(shù)


標準模式

高動態(tài)范圍模式


測量長度1

      200

m

波段

C+L 波段：1525~1625；O 波段：1265~1340

nm

波長分辨率

1.6

pm

波長精度

±1.0

pm

損耗（IL）


動態(tài)范圍

60

80

dB

插損精度

±0.1

±0.05

dB

分辨率

±0.05

±0.002

dB

回損精度

±0.1

dB

群延時 （GD)


量程

6

ns

精度

±0.2

±0.1

ps

損耗范圍

45

60

dB

色散（CD）




精度

±10

±5

ps/nm

偏振相關損耗（PDL)


動態(tài)范圍

40

50

dB

精度

±0.05

±0.03

dB

偏振模色散（PMD）


量程

6

ns

精度

±0.1

ps

損耗范圍

40

50

dB

硬件




主機功率

60

W

通訊接口

USB

-

光纖接口

FC/APC

-

尺寸

W 345 * D 390 * H 165

mm

重量

7.5

kg

儲存溫度

0 ~ 50

℃

儲存與工作溫度

10 ~ 40

%RH

定制功能2

測量長度

100

m

空間分辨率

10μm@50m

20μm@100m

μm

回損測量范圍

-125 ~ 0

dB

插損動態(tài)范圍

18

dB

插、回損分辨率

0.05

dB

插、回損精度

±0.1

dB



備注：

1.透射模式測量長度200m，可拓展反射模式，測量長度為100m；

2.光矢量分析儀(OCI-V)可拓展OFDR功能，測量光纖鏈路。



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